Автоматизация и мехатроника
Автомобили и автомобильное хозяйство
Акватроника
Аэродинамика
Аэрокосмическая техника
Биология
Вычислительная и микропроцессорная техника
Гидромеханика
Конструкции. Архитектура
Лесное хозяйство
Материаловедение
Медицина
Механика и материалы
Науки о Земле
Нефтегазовая промышленность
Окружающая среда
Пищевая химия
Пищевые и водные технологии
Полиграфия
Прикладная оптика и фотоника
Радиотехника, телекоммуникации и сети ЭВМ
Робототехника
Сельское хозяйство
Термодинамика и термотехника
Технология машиностроения и обработка материалов
Транспорт
Физика
Химические технологии
Химия
Экология
Электроника
Электроэнергетика
Энергетика
Энергия
Отправить на E-Mail
Распечатать страницу
Рентгеновское исследование кристаллических структур / метод Лауэ
Принцип:
Диаграммы Лауэ производятся, когда монокристаллы облучаются полихроматическими рентгеновскими лучами. Этот метод используется в основном для определения кристаллических симметрий и ориентации кристаллов. Когда LiF монокристалл облучают полихроматическим рентгеновским излучением, появляется характеристическая дифракционная картина. Эту модель фотографируют, затем исследуют.
Задачи:
1. Дифракции Лауэ LiF монокристалла записывают на пленку.
2. Индексы Миллера соответствующих кристаллических поверхностей должны быть отнесены к отражениям Лауэ.
Основные термины:
• кристаллические решетки
• сингонии
• обратная решетка
• индексы Миллера
• структурная амплитуда
• атомный форм-фактор
• брэгговское рассеяние
Диаграммы Лауэ производятся, когда монокристаллы облучаются полихроматическими рентгеновскими лучами. Этот метод используется в основном для определения кристаллических симметрий и ориентации кристаллов. Когда LiF монокристалл облучают полихроматическим рентгеновским излучением, появляется характеристическая дифракционная картина. Эту модель фотографируют, затем исследуют.
Задачи:
1. Дифракции Лауэ LiF монокристалла записывают на пленку.
2. Индексы Миллера соответствующих кристаллических поверхностей должны быть отнесены к отражениям Лауэ.
Основные термины:
• кристаллические решетки
• сингонии
• обратная решетка
• индексы Миллера
• структурная амплитуда
• атомный форм-фактор
• брэгговское рассеяние
