Автоматизация и мехатроника
Автомобили и автомобильное хозяйство
Акватроника
Аэродинамика
Аэрокосмическая техника
Биология
Вычислительная и микропроцессорная техника
Гидромеханика
Конструкции. Архитектура
Лесное хозяйство
Материаловедение
Медицина
Механика и материалы
Науки о Земле
Нефтегазовая промышленность
Окружающая среда
Пищевая химия
Пищевые и водные технологии
Полиграфия
Прикладная оптика и фотоника
Радиотехника, телекоммуникации и сети ЭВМ
Робототехника
Сельское хозяйство
Термодинамика и термотехника
Технология машиностроения и обработка материалов
Транспорт
Физика
Химические технологии
Химия
Экология
Электроника
Электроэнергетика
Энергетика
Энергия
Отправить на E-Mail
Распечатать страницу
Рентгеновское исследование гексагональных кристаллических структур / порошковый метод Дебая-Шеррера
Принцип:
Поликристаллическую циркониевую фольгу облучают рентгеновскими лучами. Полученные в результате метода Дебая-Шерера отражения фотографируют, а затем исследуют.
Задачи:
1. Возьмите фотографии образца циркония по Дебаю-Шерреру.
2. Изучите кольца Дебая-Шерера и назначьте их на соответствующие плоскости решетки.
3. Определите постоянные решетки материала образца.
4. Определите число атомов в элементарной ячейке образца.
Основные термины:
• кристаллические решетки
• сингонии
• обратная решетка
• индексы Миллера
• структурная амплитуда
• атомный форм-фактор
• брэгговское рассеяние
Задачи:
1. Возьмите фотографии образца циркония по Дебаю-Шерреру.
2. Изучите кольца Дебая-Шерера и назначьте их на соответствующие плоскости решетки.
3. Определите постоянные решетки материала образца.
4. Определите число атомов в элементарной ячейке образца.
Основные термины:
• кристаллические решетки
• сингонии
• обратная решетка
• индексы Миллера
• структурная амплитуда
• атомный форм-фактор
• брэгговское рассеяние