Отправить на E-Mail Распечатать страницу

Вернуться в раздел

Метод исследования структуры мелкокристаллических материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей/Метод Дебая-Шеррера (метод порошка)

Принцип:
В результате облучения поликристаллических образцов рентгеновскими лучами появляется характеристическая дифракционная картина. Эти отражения Дебая-Шерера фотографируют, а затем вычисляют

Задачи:
1. Снимки Дебая-Шерера должны быть выполнены из порошкообразных образцов хлорида натрия и хлорида цезия.
2. Вычисляют кольца Дебая-Шерера и присваивают соответствующим плоскостям решетки.
3. Определить постоянные решетки образцов материалов.
4. Определить число атомов в элементарной ячейке каждого образца.

Основные термины:
• кристаллические решетки
• кристаллические системы
• взаимные решетки
• индексы Миллера
• структурная амплитуда
• атомный форм-фактор
• брэгговское рассеяние


Свяжитесь с нами
Отправить на e-mail
Задать вопрос
Узнать цену
Опросный лист
Контактные данные
Сфера деятельности
Планируемый бюджет
50 000 50 млн. От 100 000 До 30 млн.

Если у вас выделен определенный бюджет, вы можете отталкиваться от него

Специальности
Планируемый штат учащихся / сотрудников шт. Комментарии