Автоматизация и мехатроника
Автомобили и автомобильное хозяйство
Акватроника
Аэродинамика
Аэрокосмическая техника
Биология
Вычислительная и микропроцессорная техника
Гидромеханика
Конструкции. Архитектура
Лесное хозяйство
Материаловедение
Медицина
Механика и материалы
Науки о Земле
Нефтегазовая промышленность
Окружающая среда
Пищевая химия
Пищевые и водные технологии
Полиграфия
Прикладная оптика и фотоника
Радиотехника, телекоммуникации и сети ЭВМ
Робототехника
Сельское хозяйство
Термодинамика и термотехника
Технология машиностроения и обработка материалов
Транспорт
Физика
Химические технологии
Химия
Экология
Электроника
Электроэнергетика
Энергетика
Энергия
Методы визуализации микро и нано структур с помощью АСМ
Принцип
Подход острого кремниевого наконечника, установленного на кантилевере к поверхности образца, приводит к взаимодействию атомного масштаба. Результатом является изгиб кантилевера, который обнаруживается лазером. В статическом режиме результирующий прогиб используется для исследования топографии поверхности образца линия за линией с использованием обратной связи. В динамическом режиме кантилевер колеблется с фиксированной частотой, что приводит к затуханию амплитуды вблизи поверхности. Параметры измерения (уставка, усиление обратной связи) играют решающую роль для качества изображения. Их влияние на качество изображения исследовано для различных наноструктурированных образцов.
Преимущества
- Исследование в статическом и динамическом режиме
- Модификация многочисленных параметров для оптимизации качества изображения
- Проведите эксперимент с разными образцами
- Отличное соотношение цены и качества
- Специально разработанный для использования в учебных лабораториях
- Микроскоп состоит из одного компактного портативного прибора, дополнительные инструменты не требуются
- Вибрация изолирована для лучших и воспроизводимых результатов
Задания
- Узнайте, как установить консоль (с наконечником) и приблизить наконечник к образцу.
- Изучите влияние параметров сканирования на качество и характеристики изображения, например, усиление ПИД, заданное значение (усилие), амплитуду колебаний и скорость сканирования. Используйте режим статической и динамической силы.
- Изображение различных образцов (микроструктуры, углеродные нанотрубки, поперечное сечение кожи, бактерии, CD-штамп, структура чипа, стеклянные шарики) путем оптимизации параметров соответственно.
Что вы можете узнать о
- Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
- Леннард-Джонс потенциал
- Отображение наноструктур
- Режим статической силы
- Режим динамической силы
- Обратная связь
- сила
- Колебательная амплитуда
Программное обеспечение включено. Компьютер не предоставляется.
